測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:09-18 2024 來自:祥宇精密
影像測量儀是基于機器視覺和計算機圖像處理技術的測量設備。它通過高分辨率攝像頭捕捉被測物體的影像,然后利用強大的軟件算法對影像進行處理和分析,從而獲得物體的尺寸、形狀、位置等信息。影像測量儀的主要組成部分包括高分辨率攝像頭、光源系統、計算機和測量軟件。其工作原理是通過攝像頭捕捉物體的影像,然后利用計算機圖像處理技術對影像進行分析,從而實現對物體的精確測量。
影像測量儀因其高精度和非接觸測量的特點,廣泛應用于各個行業。以下是影像測量儀的主要應用領域:
在機械制造領域,影像測量儀被廣泛用于各種零部件的測量和質量控制。它可以精確測量零件的尺寸、形狀和位置,確保零部件的精度和質量。例如,影像測量儀可以用于測量齒輪、軸承、凸輪軸、傳動軸等精密零部件。
影像測量儀在電子設備制造領域也有廣泛應用。它可以用于測量手機、電腦、平板等電子產品中的各種精密零件,如連接器、射頻連接器、接線端子等。影像測量儀的高精度和非接觸測量特點,使其在電子設備制造過程中發揮了重要作用。
在汽車制造過程中,需要對大量的零部件進行精確測量,以確保汽車的質量和性能。影像測量儀可以用于測量汽車發動機、變速箱、底盤等關鍵零部件的尺寸和形狀,確保其精度和質量。
航空航天領域對產品精度要求極高,影像測量儀的高精度和非接觸測量特點使其成為該領域的必備工具。它可以用于測量飛機發動機、機身結構件、航天器零部件等精密零部件,確保其精度和質量。
影像測量儀在精密機械制造領域廣泛應用于各類高精度零件的檢測和質量控制。它可以用于測量各種精密模具、工具、量具等,確保其精度和質量。
在半導體行業中,影像測量儀對半導體晶片進行精確測量,確保晶片質量和生產工藝的正常運行。它可以用于測量半導體晶片的尺寸、形狀和位置,確保其精度和質量。
400-801-9255